Rastersondenmikroskop (AFM/STM)

Rastersondenmikroskope finden Einsatz in der Untersuchung von Oberflächenstrukturen auf Nanometermaßstab.
Die Rastersondenmikroskopie ist der Oberbegriff für eine Methode, die Bilder zur Oberflächenanalyse mithilfe einer Sonde erzeugt, die in Wechselwirkung mit einer zu untersuchenden Probe steht. Innerhalb eines Rasters wird die Oberfläche dieser Probe Linie für Linie gescannt und die sich ergebenden Messwerte in ein digitales Bild umgewandelt. Als gängigste Messprinzipien der Rastersondenmikroskopie sind die Rastertunnelmikroskopie (STM) und die Rasterkraftmikroskopie (AFM) zu nennen. Beide Methoden unterscheiden sich wesentlich in Ihrer Auflösung und Art der Wechselwirkung.